Während sich die Halbleitertechnologie in Richtung 5-Nanometer-, 3-Nanometer- und noch kleinerer Herstellungsverfahren weiterentwickelt, werden Leistung und Integration von Chips immer besser. Dabei gewinnt die Halbleiter-Packaging-Technologie als letzter Schritt der Chipherstellung zunehmend an Bedeutung.
Die Genauigkeit von Halbleiterverpackungsformen bestimmt direkt die Ausbeute und Leistung der Chipverpackung. Dabei spielt die langsame Drahterosionstechnologie mit ihrer Genauigkeit im Mikrometerbereich und der Fähigkeit, komplexe Konturen zu bearbeiten, in diesem Bereich eine immer wichtigere Rolle.
Die langsame elektrische Entladung mit Draht ist eine berührungslose Bearbeitungstechnologie, die einen Metalldraht als Elektrode verwendet und durch gepulste Entladung hohe Temperaturen erzeugt, um das Material des Werkstücks zu schmelzen oder zu vergasen. Im Gegensatz zur herkömmlichen mechanischen Bearbeitung entsteht bei der Bearbeitung keine Schnittkraft, wodurch es sich besonders für die Bearbeitung hochharter und komplex geformter Formteile eignet.
Sein Hauptvorteil liegt in der Fähigkeit, eine Verarbeitungsgenauigkeit im Mikrometerbereich zu erreichen. Bei der langsamen Drahterosionsbearbeitung wird üblicherweise ein einmaliger Messingdraht oder verzinkter Draht als Elektrode verwendet, mit einer relativ langsamen Drahtbewegungsgeschwindigkeit, die typischerweise zwischen mehreren Millimetern und mehreren Metern pro Sekunde liegt. Dies macht den Bearbeitungsprozess stabiler und ermöglicht eine höhere Oberflächengüte und Maßgenauigkeit.
Die Verarbeitungsanforderungen für Halbleiterverpackungsformen sind äußerst streng. Beispielsweise muss der Abstand zwischen dem Stempel und der Matrize der Leiterrahmenform normalerweise auf wenige Mikrometer eingestellt werden, und die Anforderung an die Oberflächenrauheit beträgt Ra ≤ 0,8 μm. Nur die langsame Drahterosionsbearbeitungstechnologie kann diese Anforderungen gleichzeitig erfüllen und ist zu einer unverzichtbaren Prozessmethode für die Herstellung von Halbleiterverpackungsformen geworden.
Bei der Herstellung von Halbleiter-Verpackungsformen wird der gesamte Prozess vom Entwurf bis zur Fertigstellung durch den Einsatz der Technologie des langsamen Drahtschneidens abgedeckt. Für Leadframe-Stanzformen können mit dieser Technologie Stempel und Matrizen mit komplexen Formen und extrem hoher Präzision hergestellt werden, wodurch die Genauigkeit des Abstands und der Position der Leadframe-Stifte gewährleistet wird.
Auch bei der Verarbeitung von Kunststoffverpackungsformen kommt es auf langsames Drahtschneiden an. Die Hohlräume von Kunststoffverpackungsformen erfordern eine extrem hohe Oberflächengüte, um den Strömungswiderstand des Kunststoffs zu verringern und die optische Qualität der Chipverpackung sicherzustellen. Durch langsames Drahtschneiden können spiegelähnliche Verarbeitungseffekte erzielt werden, wobei die Oberflächenrauheit Ra ≤ 0,4 μm erreicht und damit die Anforderungen hochwertiger Kunststoffverpackungsformen erfüllt.
Mit der zunehmenden Chip-Integration und der kontinuierlichen Reduzierung der Gehäusegrößen sind auch die Anforderungen an die Formpräzision gestiegen. Beispielsweise kann bei der Mikrolochbearbeitung von Ball-Grid-Array-Verpackungsformen mit Lochdurchmessern von möglicherweise weniger als 0,1 Millimetern und einem Verhältnis von Tiefe zu Durchmesser von über 10:1 nur eine langsame Drahtschneidetechnologie eine solch anspruchsvolle Bearbeitungsaufgabe bewältigen.
Als Reaktion auf den Trend der Halbleiterindustrie zu größeren Abmessungen und höherer Präzision hat die Technologie des langsamen Drahtschneidens kontinuierlich innovative Durchbrüche erzielt. Bei der Verarbeitung großformatiger Verpackungsformen stoßen herkömmliche Techniken auf Probleme wie eine unzureichende Versorgung mit Arbeitsflüssigkeit zwischen den Elektroden und Schwierigkeiten bei der Entladung der geätzten Produkte, was zu einer geringen Verarbeitungseffizienz und einer schlechten Oberflächenqualität führt.
Um diesen Herausforderungen zu begegnen, umfassen die neuesten technologischen Fortschritte ein adaptives Mehrkanal-Hochdruck-Fluidversorgungssystem und eine durch Unterdruck unterstützte Spanabfuhrvorrichtung. Diese Innovationen stellen sicher, dass die Penetrationsrate des Arbeitsmediums zwischen den Elektroden ≥ 95 % beträgt, wenn Werkstücke mit extrem hoher Dicke von 1000 Millimetern oder mehr bearbeitet werden, wodurch effektiv eine stabile Entladungsumgebung aufrechterhalten wird.
Gleichzeitig wird durch den Einsatz der neuen Stromversorgungsplattentechnologie die Verarbeitungseffizienz deutlich verbessert. Die Stromversorgungsplatte mit einer dreidimensionalen topologischen leitfähigen Netzwerkstruktur verbessert die Gleichmäßigkeit der Stromdichte um 62 % und behält dennoch eine Genauigkeitsstabilität von ±0,001 Millimetern während der kontinuierlichen Verarbeitung bei. Dieser Durchbruch reduziert die Schneidzeit für komplexe Formen um 40 % und reduziert den Elektrodenverschleiß auf ein Drittel des herkömmlichen Prozesses.
Aufgrund der steigenden Nachfrage nach Formenverarbeitung für Halbleiterverpackungen haben Gerätehersteller spezielle Modelle auf den Markt gebracht. Die elektrische Entladungsbearbeitungsmaschine SG8P von Mitsubishi Electric wurde speziell für die Verarbeitungsanforderungen der Halbleiterverpackungsindustrie entwickelt.
Dieses Modell ist mit halbleiterformspezifischen Verarbeitungsbedingungen ausgestattet, verfügt über hochwertige Feinverarbeitungskreisläufe für Halbleiterverpackungsoberflächen und ist mit einem speziellen Verarbeitungsflüssigkeitszirkulationssystem konfiguriert. Es kann für verschiedene Verpackungsformen optimiert werden, wodurch die Verarbeitungszeit verkürzt und gleichzeitig die Verarbeitungsqualität verbessert wird und eine hochwertige Verarbeitungsoberfläche entsteht, die sich am besten für Halbleiterverpackungsformen eignet.
Darüber hinaus hat das Aufkommen nichtmetallischer Drahtschneidemaschinen den Anwendungsbereich der langsamen Drahtschneidetechnologie weiter erweitert. Beim traditionellen Drahtschneiden werden leitfähige Materialien verwendet, während nichtmetallische Drahtschneidemaschinen diese Einschränkung überwinden und wichtige Halbleitermaterialien wie Siliziumkarbid und Siliziumkristalle verarbeiten können.
Diese Geräte verfügen über ein großes und breites Gussbasisdesign mit hoher Steifigkeit, wodurch die Verarbeitungsstabilität und -genauigkeit effektiv verbessert wird. Die Schnittgeschwindigkeit ist 300 % bis 600 % höher als bei der Vorgängergeneration. Dies bietet mehr Materialoptionen und Prozessflexibilität für die Herstellung von Halbleiterverpackungsformen.
Obwohl die langsame elektrische Entladungstechnologie mit Draht erhebliche Fortschritte bei der Verarbeitung von Halbleiterverpackungsformen gemacht hat, steht sie immer noch vor vielen Herausforderungen. Mit der Weiterentwicklung der Chip-Verpackungstechnologie werden die Anforderungen an die Formgenauigkeit und -komplexität weiter steigen, was eine Weiterentwicklung der Drahtschneidetechnologie in Richtung höherer Präzision und höherer Effizienz erfordert.
Zu den derzeit größten technischen Engpässen gehören die unzureichende Versorgung mit Arbeitsflüssigkeit zwischen den Elektroden beim Schneiden mit hoher Energie und großer Dicke sowie die Schwierigkeit, die Ätzprodukte rechtzeitig abzuführen. Bei ultradicken Werkstücken über 1000 Millimeter kann der bestehende Prozess die Präzisions- und Effizienzanforderungen der Halbleiterindustrie nicht vollständig erfüllen.
In Zukunft wird sich die Technologie des langsamen Drahtschneidens in Richtung Intelligenz und Integration entwickeln. Die Produkte der nächsten Generation sollen mit einem selbstlernenden Stromregulierungssystem ausgestattet sein, das das leitfähige Netzwerk entsprechend den Verarbeitungsparametern automatisch optimieren kann. Gleichzeitig wird die Einführung der biologisch abbaubaren Beschichtungstechnologie eine natürliche Zersetzung der Leistungsplatine ermöglichen und so die Umweltprobleme in der Präzisionsverarbeitungsindustrie lösen.
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